Бази даних


Наукова періодика України - результати пошуку


Mozilla Firefox Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер
"Mozilla Firefox"

Вид пошуку
Повнотекстовий пошук
 Знайдено в інших БД:Реферативна база даних (33)
Список видань за алфавітом назв:
A  B  C  D  E  F  G  H  I  J  L  M  N  O  P  R  S  T  U  V  W  
А  Б  В  Г  Ґ  Д  Е  Є  Ж  З  И  І  К  Л  М  Н  О  П  Р  С  Т  У  Ф  Х  Ц  Ч  Ш  Щ  Э  Ю  Я  

Авторський покажчик    Покажчик назв публікацій



Пошуковий запит: (<.>A=Лизунов В$<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 15
Представлено документи з 1 до 15
1.

Лизунов В. В. 
Дисперсионная чувствительность картины рассеяния к дефектам в зависимости от толщины кристаллических изделий нанотехнологий. I. Теоретическая модель [Електронний ресурс] / В. В. Лизунов, Е. В. Кочелаб, Е. С. Скакунова, Е. Г. Лень, В. Б. Молодкин, С. И. Олиховский, Н. Г. Толмачёв, Б. В. Шелудченко, С. В. Лизунова, Л. Н. Скапа // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології. - 2015. - Т. 13, Вип. 1. - С. 99-115. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Nano_2015_13_1_10
Построена обобщенная модель дисперсионно чувствительной дифрактометрии неидеальных кристаллов, позволяющая проводить анализ дифференциальных и интегральных картин рассеяния для произвольных эффективных толщин кристалла. Введен параметр, характеризующий эффект аномального роста относительного вклада диффузного рассеяния. Предложенная теоретическая модель может обеспечить решение обратной многопараметрической задачи восстановления характеристик сложных дефектных структур в монокристаллах, применяемых в современных нанотехнологиях.На основе построенной в первой части работы обобщенной модели дисперсионночувствительной дифрактометрии неидеальных кристаллов произвольной толщины проведен анализ дифференциальных и интегральных картин рассеяния для широкого интервала эффективных толщин кристалла. Установлены дисперсионная природа и количественные особенности управляемого условиями дифракции изменения относительного вклада диффузного рассеяния, в частности, в зависимости от эффективной толщины динамически рассеивающего неидеального монокристалла, а также продемонстрированы возможности существенного повышения за счет увеличения этого вклада информативности и чувствительности динамической дифрактометрии дефектов. Показано, что максимальные информативность и чувствительность к дефектам за счет роста этого вклада наблюдаются в области промежуточных значений эффективной толщины кристалла. Даны практические рекомендации по выбору оптимальных комбинаций условий динамической дифракции и различных методик (интегральных и дифференциальных), обеспечивающих решение обратной многопараметрической задачи восстановления параметров сложных дефектных структур в монокристаллических изделиях современных нанотехнологий.
Попередній перегляд:   Завантажити - 348.238 Kb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
2.

Лизунов В. В. 
Дисперсионная чувствительность картины рассеяния к дефектам в зависимости от толщины кристаллических изделий нанотехнологий. II. Численный эксперимент [Електронний ресурс] / В. В. Лизунов, Е. В. Кочелаб, Е. С. Скакунова, Е. Г. Лень, В. Б. Молодкин, С. И. Олиховский, Н. Г. Толмачёв, Б. В. Шелудченко, С. В. Лизунова, Л. Н. Скапа // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології. - 2015. - Т. 13, Вип. 2. - С. 349-370. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Nano_2015_13_2_11
Построена обобщенная модель дисперсионно чувствительной дифрактометрии неидеальных кристаллов, позволяющая проводить анализ дифференциальных и интегральных картин рассеяния для произвольных эффективных толщин кристалла. Введен параметр, характеризующий эффект аномального роста относительного вклада диффузного рассеяния. Предложенная теоретическая модель может обеспечить решение обратной многопараметрической задачи восстановления характеристик сложных дефектных структур в монокристаллах, применяемых в современных нанотехнологиях.На основе построенной в первой части работы обобщенной модели дисперсионночувствительной дифрактометрии неидеальных кристаллов произвольной толщины проведен анализ дифференциальных и интегральных картин рассеяния для широкого интервала эффективных толщин кристалла. Установлены дисперсионная природа и количественные особенности управляемого условиями дифракции изменения относительного вклада диффузного рассеяния, в частности, в зависимости от эффективной толщины динамически рассеивающего неидеального монокристалла, а также продемонстрированы возможности существенного повышения за счет увеличения этого вклада информативности и чувствительности динамической дифрактометрии дефектов. Показано, что максимальные информативность и чувствительность к дефектам за счет роста этого вклада наблюдаются в области промежуточных значений эффективной толщины кристалла. Даны практические рекомендации по выбору оптимальных комбинаций условий динамической дифракции и различных методик (интегральных и дифференциальных), обеспечивающих решение обратной многопараметрической задачи восстановления параметров сложных дефектных структур в монокристаллических изделиях современных нанотехнологий.
Попередній перегляд:   Завантажити - 823.361 Kb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
3.

Молодкин В. Б. 
Физические основы многопараметрической кристаллографии: диагностика дефектов нескольких типов в монокристаллических материалах и изделиях нанотехнологий [Електронний ресурс] / В. Б. Молодкин, М. В. Ковальчук, В. Ф. Мачулин, Э. Х. Мухамеджанов, С. В. Лизунова, С. И. Олиховский, Е. Г. Лень, Б. В. Шелудченко, С. В. Дмитриев, Е. С. Скакунова, В. В. Молодкин, В. В. Лизунов, В. П. Кладько, Е. В. Первак // Успехи физики металлов. - 2011. - Т. 12, № 3. - С. 295-365. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/UPhM_2011_12_3_2
Попередній перегляд:   Завантажити - 2.128 Mb    Зміст випуску     Цитування
4.

Лизунов В. В. 
Новые подходы и возможности динамической дифрактометрии несовершенств многопараметрических систем [Електронний ресурс] / В. В. Лизунов, В. Б. Молодкин, С. В. Лизунова, Н. Г. Толмачев, Е. С. Скакунова, С. В. Дмитриев, Б. В. Шелудченко, С. М. Бровчук, Л. Н. Скапа, Р. В. Лехняк, В. В. Молодкин, Е. В. Фузик // Успехи физики металлов. - 2014. - Т. 15, № 2. - С. 55-78. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/UPhM_2014_15_2_2
Проведено обсуждение открытого авторами неизвестного ранее явления усиления на несколько порядков величины проявления дефектов в статистической картине многократного рассеяния, возможностей использования этого явления, а также установленной авторами его дисперсионной природы. Отмечено, что в отличие от статистической кинематической теории (приближение однократного рассеяния), в которой дефекты проявляют свое влияние только на амплитуды рассеянных волн (амплитуды рассеяния), при многократном (динамическом) рассеянии дополнительно формируется принципиально новый механизм влияния искажений не на амплитуды, а на волновые вектора рассеянных волн. Обнаруженный механизм экспоненциально более эффективный за счет влияния дефектов непосредственно на показатель экспоненты (на фазу волновой функции), а характер этого влияния дефектов оказывается управляемым условиями дифракции (длина волны, толщина объекта, геометрия и углы дифракции и др.). В случае наиболее простой и экспрессной интегральной дифрактометрии обсуждаются установленные ранее авторами два закона сохранения (т.е. независимости от характеристик искажений кристаллов) первого параметра кинематической теории интегральных интенсивностей, а именно, полной (брэгговской и диффузной) интегральной интенсивности рассеяния, и сохранения (т.е. независимость от условий дифракции) второго параметра кинематической теории интегральных интенсивностей, а именно, вклада диффузной составляющей в полную интегральную интенсивность. Демонстрируется, что эти законы оказываются справедливыми в случае кинематического рассеяния и существенно ограничивают чувствительность и информативность кинематической картины рассеяния. В то же время обнаруженный дисперсионный механизм влияния дефектов на картину многократного рассеяния приводит к ориентационо-интерференционным эффектам в отражательной и поглощательной способностях кристаллов, что обусловливает нарушение этих законов сохранения при переходе к случаям многократного рассеяния и обеспечивает этим уникальные показатели чувствительности и информативности диагностики на основе измерений полной интегральной интенсивности динамической дифракции и ее диффузной составляющей, а также их зависимостей от дифракционных условий. В результате открытое явление и целый ряд являющихся следствием из него эффектов, а также их дисперсионная природа позволили существенно расширить функциональные возможности диагностики и создать целый ряд методов нового поколения, которые не только на несколько порядков величины повысили чувствительность, но и позволили решить проблему однозначной диагностики многопараметрических систем путем комбинирования измерений картины многократного рассеяния в различных условиях дифракции.
Попередній перегляд:   Завантажити - 994.425 Kb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
5.

Лизунов В. В. 
Основы многопараметрической диагностики с использованием деформационных зависимостей полной интегральной интенсивности динамической дифракции [Електронний ресурс] / В. В. Лизунов, С. М. Бровчук, А. И. Низкова, В. Б. Молодкин, С. В. Лизунова, Б. В. Шелудченко, А. И. Гранкина, И. И. Рудницкая, С. В. Дмитриев, Н. Г. Толмачев // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології. - 2014. - Т. 12, Вип. 3. - С. 565-584. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Nano_2014_12_3_13
Построены полуфеноменологические теоретические модели деформационных зависимостей (ДЗ) полной (брэгговской и диффузной) интегральной интенсивности динамической дифракции (ПИИДД) в кристаллах с дефектами нескольких типов для достаточно высокой степени упругой деформации в различных условиях дифракции. Показана достаточная избирательность чувствительности этих ДЗ ПИИДД к тому типу дефектов, который дает определяющий вклад в ПИИДД в выбранных условиях дифракции и интервалах изменения степени упругой деформации. Это создает основу для решения проблемы диагностики многопараметрических систем путем управления этой избирательностью ДЗ ПИИДД при комбинированном подходе. Приведены результаты практической реализации разработанного подхода.
Попередній перегляд:   Завантажити - 407.791 Kb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
6.

Лизунов В. В. 
Магнитные фазовые диаграммы двухкомпонентных неупорядоченных ОЦК-сплавов замещения с сильными электронными корреляциями [Електронний ресурс] / В. В. Лизунов, Е. Г. Лень, И. Н. Мельник, Н. В. Ушаков, Т. С. Лень, В. А. Татаренко // Металлофизика и новейшие технологии. - 2014. - Т. 36, № 5. - С. 575-588. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MPhNT_2014_36_5_3
Исследованы энергетические спектры электронов и предсказаны диаграммы магнитных фазовых состояний неупорядоченных бинарных ОЦК-сплавов замещения с различными значениями параметра рассеяния электронов на атомах обоих компонентов. Для описания таких сплавов предложена однозонная модель сильной связи, учитывающая электрон-электронные взаимодействия в приближении коррелированного случайного поля. Показано, что тип магнитного порядка сплавов определяется как энергетическими параметрами кулоновского отталкивания электронов с противоположными спинами на одном узле и средней электронной концентрацией, так и величиной атомного потенциала рассеяния. В отличие от однокомпонентных систем в исследованных сплавах антиферромагнитное упорядочение имеет пороговый характер, то есть для всех возможных значений средней электронной концентрации оно не может устанавливаться при сколь угодно малых значениях потенциала кулоновского отталкивания электронов на одном узле.
Попередній перегляд:   Завантажити - 392.602 Kb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
7.

Лизунова С. В. 
Теория многократного (динамического) рассеяния в некристаллических объектах [Електронний ресурс] / С. В. Лизунова, В. Б. Молодкин, Б. В. Шелудченко, В. В. Лизунов // Металлофизика и новейшие технологии. - 2013. - Т. 35, № 11. - С. 1585-1593. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MPhNT_2013_35_11_13
Построена теория многократного (динамического) рассеяния излучений в некристаллических объектах, в частности, медико-биологических, с самосогласованным учётом преломления, поглощения и экстинкции лучей на основе решений уравнений Шредингера или Максвелла в импульсном представлении в рамках теории возмущений с использованием в качестве малого параметра отношения потенциальной энергии взаимодействия излучения с объектом к кинетической энергии рассеиваемых частиц. Эта теория необходима для создания теоретических основ решения обратной задачи рассеяния по интерпретации изображений медицинских объектов рекордно малых (микронных) размеров, наблюдаемых за счёт использования явления преломления лучей вместо поглощения.
Попередній перегляд:   Завантажити - 180.731 Kb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
8.

Шелудченко Б. В. 
Теоретическая трёхосевая модель динамического рассеяния и формирования изображений некристаллических объектов [Електронний ресурс] / Б. В. Шелудченко, В. Б. Молодкин, С. В. Лизунова, С. И. Олиховский, Е. Н. Кисловский, А. Ю. Гаевский, В. В. Лизунов, А. И. Низкова, Т. П. Владимирова, В. В. Молодкин // Металлофизика и новейшие технологии. - 2014. - Т. 36, № 4. - С. 559-573. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MPhNT_2014_36_4_13
Попередній перегляд:   Завантажити - 341.001 Kb    Зміст випуску     Цитування
9.

Лизунов В. В. 
Явление усиления на порядки величины проявления дефектов в картине многократного рассеяния и его дисперсионная природа [Електронний ресурс] / В. В. Лизунов, В. Б. Молодкин, С. В. Лизунова, Н. Г. Толмачёв, Е. С. Скакунова, С. В. Дмитриев, Б. В. Шелудченко, С. М. Бровчук, Л. Н. Скапа, Р. В. Лехняк, Е. В. Фузик // Металлофизика и новейшие технологии. - 2014. - Т. 36, № 7. - С. 857-870. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MPhNT_2014_36_7_3
Обсуждено открытое и количественно обоснованное авторами неизвестное ранее явление усиления на несколько порядков величины проявления дефектов в статистической картине многократного рассеяния. Установлена дисперсионная природа этого явления. Показано, что в отличие от случаев традиционно применяемой статистической кинематической теории (приближение однократного рассеяния), в которой дефекты проявляют свое влияние только на амплитуды рассеянных волн (амплитуды рассеяния), при многократном (динамическом) рассеянии дополнительно "включается" принципиально новый механизм влияния искажений не на амплитуды, а на волновые вектора рассеянных волн. Обнаруженный механизм оказался, во-первых, экспоненциально более существенным, т.к. дефекты влияют непосредственно на показатель экспоненты (на фазу волновой функции), и, во-вторых, характер этого влияния дефектов оказался управляемым условиями дифракции (длина волны, толщина объекта, геометрия и углы дифракции и др.). В результате открытое явление и его дисперсионная природа позволили авторам статьи существенно расширить функциональные возможности диагностики и создать целый ряд методов нового поколения. Они не только на несколько порядков величины повысили чувствительность, но и позволили решить проблему однозначной диагностики многопараметрических систем путем комбинирования измерений картины многократного рассеяния в различных условиях дифракции.
Попередній перегляд:   Завантажити - 255.432 Kb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
10.

Лизунов В. В. 
Возможности диагностики нескольких типов дефектов кристалла на основе эффекта различного влияния дефектов разного типа на деформационную зависимость полной интегральной интенсивности динамической дифракции [Електронний ресурс] / В. В. Лизунов, С. М. Бровчук, А. И. Низкова, В. Б. Молодкин, С. В. Лизунова, Б. В. Шелудченко, А. И. Гранкина, И. И. Рудницкая, С. В. Дмитриев, Н. Г. Толмачёв // Металлофизика и новейшие технологии. - 2014. - Т. 36, № 9. - С. 1271-1285. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MPhNT_2014_36_9_12
Установлено и количественно проанализировано различие деформационных зависимостей (ДЗ) когерентной (Rib) и диффузной (Rid) составляющих полной интегральной интенсивности динамической дифракции (ПИИДД) как между собой, так и для каждого из нескольких типов дефектов, одновременно присутствующих в монокристаллическом образце. Это открывает принципиальную возможность определения параметров дефектов разного типа при использовании (наряду с вариацией условий дифракции) различных участков ДЗ ПИИДД с резкой ДЗ Rid/Rib (вклада диффузной составляющей). Показано, что при изменении условий Лауэ-дифракции от соответствующих приближению толстого кристалла к соответствующим приближению тонкого кристалла и при расширении области изменения степени упругой деформации появляется возможность управления интервалом и характером изменения отношения Rid/Rib, а в результате - чувствительностью ДЗ ПИИДД к типу и характеристикам микродефектов.
Попередній перегляд:   Завантажити - 427.57 Kb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
11.

Лизунов В. В. 
Новые возможности интегральной динамической дифрактометрии несовершенств кристаллов [Електронний ресурс] / В. В. Лизунов, В. Б. Молодкин, С. И. Олиховский, С. В. Лизунова, Н. Г. Толмачёв, А. И. Низкова, Е. С. Скакунова, С. В. Дмитриев, Б. В. Шелудченко, Я. В. Василик // Металлофизика и новейшие технологии. - 2015. - Т. 37, № 2. - С. 265-279. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MPhNT_2015_37_2_14
В предыдущей работе авторов обсуждалось открытое ими неизвестное ранее явление управляемого условиями дифракции дисперсионного усиления на несколько порядков величины (в сравнении с традиционным кинематическим случаем диагностики) проявления дефектов в статистической картине динамического (многократного) рассеяния. В данной работе обсуждены наиболее важные следствия из этого открытого явления, которые обеспечили возникновение эффектов чувствительности (и при этом уникальной) к несовершенствам кристаллов полной (брэгговской и диффузной) интегральной интенсивности динамической дифракции (ПИИДД) и аномального вклада ее диффузной составляющей, а также чувствительности к характеристикам дефектов появившихся сильных зависимостей ПИИДД от условий дифракции. Обсуждены новые возможности и примеры использования измерений ПИИДД, вклада ее диффузной составляющей и их зависимостей от различных условий динамической дифракции для неразрушающей экспрессной высокочувствительной и информативной диагностики несовершенств структуры многопараметрических систем.
Попередній перегляд:   Завантажити - 340.857 Kb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
12.

Дмитриев С. В. 
Теория динамического фактора Кривоглаза—Дебая—Валлера [Електронний ресурс] / С. В. Дмитриев, Р. В. Лехняк, В. Б. Молодкин, В. В. Лизунов, Л. Н. Скапа, Е. С. Скакунова, С. В. Лизунова, С. И. Олиховский, Е. Г. Лень, Н. Г. Толмачёв // Металлофизика и новейшие технологии. - 2015. - Т. 37, № 9. - С. 1169-1181. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MPhNT_2015_37_9_4
Попередній перегляд:   Завантажити - 318.972 Kb    Зміст випуску     Цитування
13.

Лень Е. Г. 
Концентрационная зависимость магнитных свойств бинарных ОЦК-сплавов с беспорядком замещения [Електронний ресурс] / Е. Г. Лень, В. В. Лизунов, Т. С. Лень, Н. В. Ушаков, В. А. Татаренко // Металлофизика и новейшие технологии. - 2015. - Т. 37, № 10. - С. 1405-1424. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MPhNT_2015_37_10_11
В рамках обобщенной однозонной модели Хаббарда исследованы концентрационные зависимости магнитных свойств бинарных ОЦК-сплавов с беспорядком замещения. Нарушение трансляционной инвариантности сплава изза атомного разупорядочения приводит к нарушению электронно-дырочной симметрии, что проявляется в пороговом характере антиферромагнитного упорядочения при половинном заполнении зоны и в асимметрии магнитных фазовых диаграмм сплавов относительно соответствующего значения средней электронной концентрации на один узел (n = 1). Установлено, что различный преимущественный порядок заполнения хаббардовских подзон для компонентов сплава А и В с ростом n, определяемый знаком потенциала примесного рассеяния, обусловливает, в общем случае, несимметричность относительно точки <$EP sub 0 sup A ~=~0,5> зависимостей магнитных характеристик изовалентных сплавов (ZA = ZB, n = const) от концентрации компонента А (<$EP sub 0 sup A>). Несимметричность аналогичных концентрационных зависимостей для сплавов с ZA = 1, ZB = 0 обусловлена связью n = <$EP sub 0 sup A>. Наблюдаемые для таких сплавов концентрационные зависимости локализованных магнитных моментов схожи с зависимостью от n аналогичной величины для чистого металла, однако характеризуются различными численными значениями для разных компонентов сплава, а также возможностью иной концентрационной зависимости параметров магнитного порядка. Концентрационные зависимости магнитных моментов в сплавах с ZA = 2, ZB = 0, в отличие от других типов сплавов, оказываются в значительной степени симметричными. При этом концентрационная зависимость параметра магнитного порядка является несимметричной из-за нарушения электронно-дырочной симметрии при изменении n = <$E2P sub 0 sup A> от 0 до 2.
Попередній перегляд:   Завантажити - 474.155 Kb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
14.

Молодкин В. Б. 
Физическая природа и новые возможности использования эффектов асимметрии азимутальной зависимости полной интегральной интенсивности динамической дифракции для диагностики кристаллов с нарушенным поверхностным слоем и дефектами [Електронний ресурс] / В. Б. Молодкин, А. И. Низкова, Е. И. Богданов, С. И. Олиховский, С. В. Дмитриев, Н. Г. Толмачев, В. В. Лизунов, Я. В. Василик, А. Г. Карпов, О. Г. Войток // Успехи физики металлов. - 2017. - Т. 18, № 2. - С. 177-204. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/UPhM_2017_18_2_5
Обсуждены результаты обнаружения и раскрытия физической природы нового эффекта асимметрии азимутальной зависимости полной интегральной интенсивности динамической дифракции (ПИИДД) рентгеновских лучей за счет не нарушенного поверхностного слоя (НПС), что описано авторами в предыдущей работе, а крупных дефектов (соизмеримых с длиной экстинкции рентгеновских лучей). Такой новый эффект асимметрии обусловлен уменьшением диффузной составляющей ПИИДД за счет полного в области брэгговского пика отражения этой составляющей, относительный вклад которого увеличивается с ростом размера дефектов. При этом такая асимметрия оказалась имеющей противоположный знак в сравнении с вызванной НПС, что принципиально улучшает диагностические функциональные возможности при совместном использовании этих эффектов. Обсуждены также результаты создания на основе обнаруженных двух эффектов асимметрии метода многопараметрической диагностики одновременно и толщины НПС, и характеристик дефектов без ограничений на их размеры и количество их типов.
Попередній перегляд:   Завантажити - 1.094 Mb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
15.

Скапа Л. Н. 
Дисперсионные эффекты взаимосвязанности зависимостей от различных условий дифракции картины рассеяния и колоссального усиления этих зависимостей и их структурной чувствительности и информативности [Електронний ресурс] / Л. Н. Скапа, В. В. Лизунов, В. Б. Молодкин, Е. Г. Лень, Б. В. Шелудченко, С. В. Лизунова, Е. С. Скакунова, Н. Г. Толмачёв, С. В. Дмитриев, Р. В. Лехняк // Металлофизика и новейшие технологии. - 2015. - Т. 37, № 11. - С. 1567-1582. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MPhNT_2015_37_11_12
Проведен квантово-механический количественный анализ возможностей повышения чувствительности и информативности картины многократного рассеяния к несовершенствам структуры кристаллов за счет использования дисперсионных эффектов колоссального усиления структурно чувтвительных зависимостей дифракционной картины от различных условий дифракции. Установлено появление за счет дисперсионного механизма эффектов взаимосвязанности указанных зависимостей картины от различных условий между собой и с зависимостями от характеристик дефектов и в результате изменения избирательности чувствительности этих зависимостей к дефектам какого-либо типа при вариации условий дифракции. Это существенно расширило возможности применения целенаправленно комбинированной обработки дифрактометрических данных в различных условиях дифракции для повышения информативности многопараметрической диагностики.
Попередній перегляд:   Завантажити - 303.444 Kb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
 
Відділ наукової організації електронних інформаційних ресурсів
Пам`ятка користувача

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського